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濟南微納顆粒儀器受邀參加中國顆粒學(xué)會第十屆學(xué)術(shù)年會

來源：

作者：

濟南微納

 2018年8月9日，中國顆粒學(xué)會第十屆學(xué)術(shù)年會暨海峽兩岸顆粒技術(shù)研討會在歷史悠久的沈陽市舉行，本屆會議由中國顆粒學(xué)會、中國科學(xué)院金屬所、 清華大學(xué)、大同大學(xué)（臺北）共同主辦，作為顆粒測試領(lǐng)域及國內(nèi)激光粒度儀研發(fā)的先驅(qū)品牌，濟南微納顆粒儀器受邀參會。

 8月10日下午，在顆粒的測試與表征分會場，微納顆粒創(chuàng)始人任中京教授現(xiàn)場講解《激光粒度分析儀多次散射補償技術(shù)研究》的研究報告。激光粒度分析儀多次散射補償技術(shù)的研究的意義就是提高激光粒度儀測試的精度，消除激光多次散射對顆粒測試結(jié)果帶來的影響，闡述了微納顆粒研發(fā)的補償技術(shù)可有效改善大顆粒寬分布顆粒群的粒度分布的測試精度，并且該技術(shù)已經(jīng)成熟運用到微納研發(fā)的Winner系列激光粒度儀中。

 

  作為國內(nèi)激光粒度儀行業(yè)研發(fā)的先驅(qū)者，微納顆粒一直在顆粒測試技術(shù)領(lǐng)域潛心鉆研，把創(chuàng)新技術(shù)運用到儀器，并成熟落地到項目。